ViwandaMikroskopuECLIPSE LV150NA na LV150N (safi ya kutafakari)

Mfululizo huu wa semiconductor microscope hutumia taa safi ya kutafakari, njia ya ukaguzi wa kioo inayosaidiwa ni: uwanja wa mwanga, uwanja wa giza, kuingilia tofauti, polarization, fluorescence, kuingilia kwa mwanga wa mbili, inaweza kubeba kamera ya digital, mara nyingi hutumiwa kwa ukaguzi wa semiconductor, mzunguko wa jumuishi na vifaa vingine mbalimbali.

Modular kubuni, umeme na manual

Imebuniwa kwa mfumo wa macho wa Nikon CFI60-2 na picha ni wazi; Inaweza kuchukua picha kwa kamera ya digital; Modular kubuni kwa urahisi kukabiliana na upanuzi wa kazi mbalimbali.

Nikon ECLIPSE LV150NA na LV150N

Hasa hutumiwa kwa ukaguzi wa semiconductor, vifaa vya viwanda na sehemu, pamoja na utafiti na maendeleo ya bidhaa.

Nikon CFI60-2 optical mfululizo wa vitu

Kubuni ya uvumbuzi ya Nikon inasaidia ufikiaji wa wazi, tofauti ya juu ya uwanja wa mwanga, uwanja wa giza, fluorescence, polarization (POL), tofauti ya kuingilia kati (DIC), na vipimo vya kuingilia kati ya mwanga mbili.

Kamera ya Nikon Digital Sight

Kamera nzima za Nikon Digital Sight zinaweza kuchukua picha kwa ufanisi na kupitia LV-ECON zinatumia vipimo vya sasa pamoja na vipimo kama vile lensi, mipangilio ya kubadilisha viwango, na mwanga wa mwanga katika programu ya usindikaji wa picha ya NIS-Elements.

LV150N kwa pamoja na NWL200

Inatambuliwa sana na kuaminiwa katika sekta ya semiconductor na sasa kuna vifaa vingi vinavyotumiwa.

bidhaa muhimu

Mbinu mbalimbali za kuangalia

Taa ya kutafakari. Njia za kuchagua za kuchunguza ni: uwanja wa wazi, uwanja wa giza, polarization (POL) na kuingilia tofauti (DIC), fluorescence na kuingilia kwa mwanga wa mbili.

Vifaa mbalimbali

Kuna vifaa vingi vya kuchagua kwa watumiaji.

Kituo cha kubeba, Lens, Lens converter, glasi, glasses, kamera za digital, filters na polarizers, nk.

mawasiliano ya akili ya digital

LV150NA na LV150N zinaweza kusimamia mabadiliko ya lensi ya umeme, hatua za mwanga, mwanga wa mwanga, kuzingatia umeme na mengi zaidi kupitia programu ya NIS-Elements ya Nikon na LV-ECON E controller.

LV150N inaweza kuchunguza na kuripoti vitu vinavyotumiwa kwenye LV-NU5I na LV-INAD.

Uhandisi wa Kibinadamu

Matumizi ya lens inayoweza kurekebishwa inawezesha waendeshaji kuchunguza sampuli kwa starehe zaidi na kuondoa uchovu.

Hasa hutumiwa kwa uchunguzi wa vifaa, semiconductor na viwanda vipengele.

Kazi ya msingi

Vifaa na semiconductor ukaguzi

Mfano wa matumizi ni pamoja na semiconductor substrates na vifaa vifurushi, gorofa maonyesho (FPD), vipengele vya elektroniki na vifaa vya ubunifu ambavyo vinaweza kuchagua njia sahihi ya uchunguzi wa kioo kulingana na mahitaji.

Ukubwa